發(fā)布日期：2019-06-03
為獲取Uv紫外老化試驗箱較好的信號比輸出，必須對一組測量進(jìn)行平均技術(shù)，通常這需要200~2000次數據平均才可能獲得較好的信號比輸出。對于直流電壓測試，使用500Hz高壓脈沖發(fā)生器和2000次數據平均大約需要的測量時(shí)間為4s，這個(gè)時(shí)間過(guò)程對于電荷衰減過(guò)程中捕捉非?？焖偎p電荷的過(guò)程是不足夠的。同樣，對于交流50Hz正弦波形，假定需要500組數據進(jìn)行平均，如果一個(gè)波形上進(jìn)行16個(gè)點(diǎn)的測量總共需要8000 個(gè)循環(huán)周期（16×500=8000），這將總共耗時(shí)160s（8000×20ms）。這些數十秒的測量時(shí)間將對材料體內的陷阱電荷的準確幅值和位置的準確獲取變得十分困難。
電源頻率對交流空間電荷測量的限制，當使用上述傳統的PEA系統進(jìn)行交流空間電荷測量時(shí)，常用的一種方法就是波形取點(diǎn)（point on wave，POW）法，電腦能直接同時(shí)控制高壓電源和高壓脈沖電源的觸發(fā)，這使得在交流電壓波形上選取特定的點(diǎn)進(jìn)行同步的空間電荷測量成為可能。
對Uv紫外老化試驗箱交流電壓波形的不同相位進(jìn)行測量將會(huì )產(chǎn)生不同電壓幅值，如果施加的交流電壓頻率很低，比如少于0.05Hz，輸出的電壓幅值變化很小，這就與直流下的情況類(lèi)似。但當外加電壓頻率很高時(shí)，使用機械繼電器開(kāi)關(guān)和波形取點(diǎn)法的21缺點(diǎn)就很明顯了。
