發(fā)布日期：2014-04-26
有許多因素會(huì )影響老化房老化測試系統的整體性能，下面是一些主要方面：
1．老化房計算機主機與測試系統之間的通信。由于功能測試程序非常長(cháng)，因此測試硬件的設計應盡可能提高速度。一些系統使用較慢的串行通信，如RS-232C或者類(lèi)似協(xié)議，而另一些系統則使用雙向并行總線(xiàn)系統，大大提高了數據流通率。
2．根據時(shí)間動(dòng)態(tài)改變測試參數的能力，如電壓與頻率。如果老化測試系統能夠即時(shí)改變參數，則可以加快通常屬于產(chǎn)品壽命后期階段故障的出現。對于某些器件結構，直流電壓偏置及動(dòng)態(tài)信號的功率變動(dòng)都可加速出現晚期壽命故障。
3．系統提供參數測試的能力。如果老化測試系統能進(jìn)行一些速度測試，那么還可得到其他一些相關(guān)失效數據以進(jìn)行可靠性研究，這也有助于精簡(jiǎn)老化后測試工藝。
4．對高速測試儀程序的下載及轉換能力。有些老化測試系統有自己的測試語(yǔ)言，對需要做100%節點(diǎn)切換的被測器件不用再開(kāi)發(fā)程序；而有些系統能夠把高速測試儀程序直接轉換到老化應用上，可以在老化過(guò)程中進(jìn)行更準確的測試。
5．計算機接口與數據采集方式。有些老化測試系統采用分區方法，一個(gè)數據采集主機控制多個(gè)老化板，另外有些系統則是單板式采集。從實(shí)際情況來(lái)看，單板式方法可以采集到更多數據，而且可能還具有更大的測試產(chǎn)量。
6．首先是老化房測試方法的選擇。理想的情況是器件在老化工藝上花費的時(shí)間最少，這樣可以提高總體產(chǎn)量。惡劣的電性能條件有助于故障加速出現，因此能快速進(jìn)行反復測試的系統可減少總體老化時(shí)間。每單位時(shí)間里內部節點(diǎn)切換次數越多，器件受到的考驗就越大，故障也就出現得更快。
7．老化房老化板互連性、PCB設計以及偏置電路的復雜性。老化測試系統可能被有些人稱(chēng)為高速測試，但是，如果機械連接或老化板本身特性會(huì )削弱信號質(zhì)量，那么測試速度將會(huì )是一個(gè)問(wèn)題。如像過(guò)多機電性連接會(huì )增大整個(gè)系統的總電容和電感、老化板設計不良會(huì )產(chǎn)生噪聲和串擾、而很差的引腳驅動(dòng)器設計則會(huì )使快速信號沿所需的驅動(dòng)電流大小受到限制等等，這些都僅是一部分影響速度的瓶頸，另外由于負載過(guò)大并存在阻抗、電路偏置以及保護元件值的選擇等也會(huì )使老化的性能受到影響。
